UniversitÓ degli Studi di Pavia - FacoltÓ di Scienze MMFFNN

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Cristallografia

Corsi di laurea:
Chimica
Docenti:
Zema Michele, Tarantino Serena Chiara
Anno accademico:
2011/2012
Crediti formativi:
6
Ambiti:
GEO/06
Decreto Ministeriale:
270/04
Lingua di insegnamento:
Italiano

ModalitÓ

Esame orale e prova scritta.

Prerequisiti

Il corso non prevede rapporti di propedeuticitÓ con altri insegnamenti del Corso di Laurea.

Programma

Lo stato cristallino. Impaccamenti compatti. Modello delle sfere rigide. Strutture interstiziali. Strutture tipo. Operatori ed operazioni di simmetria puntuali e traslazionali. Gruppi e sistemi cristallini. Reticoli di Bravais. Associazioni coerenti di elementi di simmetria. Classi cristalline e proiezioni stereografiche. Gruppi spaziali. International Tables for Crystallography.
Analisi strutturale mediante diffrazione dei raggi X. Fenomeni di interferenza e diffrazione. Condizione di Bragg. Reticolo reciproco. Pattern di diffrazione: aspetto geometrico e intensitÓ relative. Fattori di scattering atomici. Il fattore di struttura. Legge di Friedel. Il “problema della fase”. Metodi per la risoluzione di strutture cristalline: metodo di Patterson; metodi diretti (distribuzione dei fattori di struttura normalizzati; concetto di invariante di struttura; relazioni di disuguaglianza di Harker e Kasper); metodi duali (charge flipping). La funzione densitÓ elettronica e la sua espansione in serie di Fourier. Modello strutturale e suo raffinamento. Metodo dei minimi quadrati e MEM (Maximum Entropy Method). Dispersione anomala e determinazione della configurazione assoluta.
Diffrazione da polveri. Reticolo reciproco associato a una polvere cristallina. Coni di diffrazione. Genesi del diffrattogramma: posizione, intensitÓ e forma dei picchi. Indicizzazione di un pattern di diffrazione. Raffinamento strutturale: metodo di Rietveld. Dimensione dei cristalliti e relazione di Scherrer.
Produzione e filtraggio dei raggi X: sorgenti convenzionali e luce di sincrotrone. Cenni sulla strumentazione per esperimenti di diffrazione da cristallo singolo e da polveri. Elementi di diffrazione di neutroni e elettroni.

Bibliografia

Per le basi di cristallografia:
- C. Hammond, “The Basics of Crystallography and Diffraction”, Oxford University Press.

Per i metodi di analisi strutturale di solidi cristallini:
- J.P. Glusker & K.N. Trueblood, “Crystal Structure Analysis - A Primer”, Oxford University Press.
- M.F.C. Ladd & R.A. Palmer, “Structure Determination by X-ray Crystallography”, New York and London, Plenum Press.
- G.H. Stout & L.H. Jensen, “X-ray Structure Determination – A Practical Guide”, Wiley.

Per un approfondimento:
- C. Giacovazzo, “Fundamentals of Crystallography”, 2nd ed., Oxford University Press, 2005.


Moduli

Docente:
Zema Michele
Crediti formativi:
3
Ambito:
GEO/06

Programma

Lo stato cristallino. Impaccamenti compatti. Modello delle sfere rigide. Strutture interstiziali. Strutture tipo. Operatori ed operazioni di simmetria puntuali e traslazionali. Gruppi e sistemi cristallini. Reticoli di Bravais. Associazioni coerenti di elementi di simmetria. Classi cristalline e proiezioni stereografiche. Gruppi spaziali. International Tables for Crystallography.
Analisi strutturale mediante diffrazione dei raggi X. Fenomeni di interferenza e diffrazione. Condizione di Bragg. Reticolo reciproco. Pattern di diffrazione: aspetto geometrico e intensitÓ relative. Fattori di scattering atomici. Il fattore di struttura. Legge di Friedel. Il “problema della fase”. Metodi per la risoluzione di strutture cristalline: metodo di Patterson; metodi diretti (distribuzione dei fattori di struttura normalizzati; concetto di invariante di struttura; relazioni di disuguaglianza di Harker e Kasper); metodi duali (charge flipping). La funzione densitÓ elettronica e la sua espansione in serie di Fourier. Modello strutturale e suo raffinamento. Metodo dei minimi quadrati e MEM (Maximum Entropy Method). Dispersione anomala e determinazione della configurazione assoluta.
Diffrazione da polveri. Reticolo reciproco associato a una polvere cristallina. Coni di diffrazione. Genesi del diffrattogramma: posizione, intensitÓ e forma dei picchi. Indicizzazione di un pattern di diffrazione. Raffinamento strutturale: metodo di Rietveld. Dimensione dei cristalliti e relazione di Scherrer.
Produzione e filtraggio dei raggi X: sorgenti convenzionali e luce di sincrotrone. Cenni sulla strumentazione per esperimenti di diffrazione da cristallo singolo e da polveri. Elementi di diffrazione di neutroni e elettroni.

Bibliografia

Per le basi di cristallografia:
- C. Hammond, “The Basics of Crystallography and Diffraction”, Oxford University Press.

Per i metodi di analisi strutturale di solidi cristallini:
- J.P. Glusker & K.N. Trueblood, “Crystal Structure Analysis - A Primer”, Oxford University Press.
- M.F.C. Ladd & R.A. Palmer, “Structure Determination by X-ray Crystallography”, New York and London, Plenum Press.
- G.H. Stout & L.H. Jensen, “X-ray Structure Determination – A Practical Guide”, Wiley.

Per un approfondimento:
- C. Giacovazzo, “Fundamentals of Crystallography”, 2nd ed., Oxford University Press, 2005.


Docente:
Tarantino Serena Chiara
Crediti formativi:
3
Ambito:
GEO/06

Programma

Lo stato cristallino. Impaccamenti compatti. Modello delle sfere rigide. Strutture interstiziali. Strutture tipo. Operatori ed operazioni di simmetria puntuali e traslazionali. Gruppi e sistemi cristallini. Reticoli di Bravais. Associazioni coerenti di elementi di simmetria. Classi cristalline e proiezioni stereografiche. Gruppi spaziali. International Tables for Crystallography.
Analisi strutturale mediante diffrazione dei raggi X. Fenomeni di interferenza e diffrazione. Condizione di Bragg. Reticolo reciproco. Pattern di diffrazione: aspetto geometrico e intensitÓ relative. Fattori di scattering atomici. Il fattore di struttura. Legge di Friedel. Il “problema della fase”. Metodi per la risoluzione di strutture cristalline: metodo di Patterson; metodi diretti (distribuzione dei fattori di struttura normalizzati; concetto di invariante di struttura; relazioni di disuguaglianza di Harker e Kasper); metodi duali (charge flipping). La funzione densitÓ elettronica e la sua espansione in serie di Fourier. Modello strutturale e suo raffinamento. Metodo dei minimi quadrati e MEM (Maximum Entropy Method). Dispersione anomala e determinazione della configurazione assoluta.
Diffrazione da polveri. Reticolo reciproco associato a una polvere cristallina. Coni di diffrazione. Genesi del diffrattogramma: posizione, intensitÓ e forma dei picchi. Indicizzazione di un pattern di diffrazione. Raffinamento strutturale: metodo di Rietveld. Dimensione dei cristalliti e relazione di Scherrer.
Produzione e filtraggio dei raggi X: sorgenti convenzionali e luce di sincrotrone. Cenni sulla strumentazione per esperimenti di diffrazione da cristallo singolo e da polveri. Elementi di diffrazione di neutroni e elettroni.

Bibliografia

Per le basi di cristallografia:
- C. Hammond, “The Basics of Crystallography and Diffraction”, Oxford University Press.

Per i metodi di analisi strutturale di solidi cristallini:
- J.P. Glusker & K.N. Trueblood, “Crystal Structure Analysis - A Primer”, Oxford University Press.
- M.F.C. Ladd & R.A. Palmer, “Structure Determination by X-ray Crystallography”, New York and London, Plenum Press.
- G.H. Stout & L.H. Jensen, “X-ray Structure Determination – A Practical Guide”, Wiley.

Per un approfondimento:
- C. Giacovazzo, “Fundamentals of Crystallography”, 2nd ed., Oxford University Press, 2005.


Elenco appelli e prove

Nessuna prova presente

Credits: apnetwork.it